做XRD有什么用途，能看出其純度？還是能看出其中含有某種官能團(tuán)？

X射線(xiàn)照射到物質(zhì)上將產(chǎn)生散射。晶態(tài)物質(zhì)對(duì)X射線(xiàn)產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時(shí)光束沒(méi)有被發(fā)散但方向被改變了而其波長(zhǎng)保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)*的現(xiàn)象。

絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線(xiàn)衍射。晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長(zhǎng)程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線(xiàn)衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場(chǎng)景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線(xiàn)衍射圖。

X射線(xiàn)衍射（XRD）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)（如原子或離子及其基團(tuán)的種類(lèi)和位置分布，晶胞形狀和大小等）有力的方法。

XRD特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團(tuán)如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對(duì)強(qiáng)度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此，通過(guò)樣品的X射線(xiàn)衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線(xiàn)衍射譜圖的對(duì)比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過(guò)對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD還可以測(cè)定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構(gòu)）等等，應(yīng)用面十分普遍、廣泛。

目前XRD主要適用于無(wú)機(jī)物，對(duì)于有機(jī)物應(yīng)用相對(duì)較少。

意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線(xiàn)產(chǎn)品線(xiàn)誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線(xiàn)已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。

可用于桌面的臺(tái)式衍射儀ERUOPE、性?xún)r(jià)比高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強(qiáng)大的多功能高分辨率X射線(xiàn)衍射儀EXPLORER，均可用于職業(yè)衛(wèi)生中游離二氧化硅的檢測(cè)。